為了通過試驗獲得準確和足夠的數據,有效地反映產品的可靠性數量特征，加速而又 “真實”地暴露失效模式，以及避免在時間和費用上造成很大浪費,所以，在試驗之前必須 周密地計劃，做出妥善的安排。由于加速壽命老化試驗箱基本與長期壽命試驗的設備相同，而其試驗應力按加速壽命試驗規(guī)定的方式施加,所以,除本章長期壽命試驗提出的幾個注意問題外，根據加速壽命試驗的特點，還應考慮如下幾個問題。
產品的失效是由其失效機理所決定的。失效機理促使失效過程的發(fā)展。同時失效過程進行的快慢又受到環(huán)境條件和工作條件等應力的影響。伹是產品所處實際工作狀態(tài) 或儲存狀態(tài)的環(huán)境條件或工作條件等，并不是都能產生同樣的失效機理,可能有多種失效機理同時出現(xiàn)。在一定時期內和一定條件下將有些起主導作用的失效機理促使失效過程 發(fā)展。在選擇加速變量時,就要選擇那種對主要失效機理起主導作用的應力條件。半導 體器件常選擇溫度作為加速變量。除了溫度和電壓外，有時還選擇電流、功率、相對濕度等作為加速變化。 例如，推算器件在正常溫度下的儲存壽命特征,可以選 擇環(huán)境溫度作為加速變量;如果推算器件在額定負荷條件下的工作壽命特征,也可以選擇 溫度作為加速變量，但此溫度是由電應力轉化成的溫度與環(huán)境溫度一起形成的結溫。
